US Department of Energy (DOE) har nylig gitt ut sin tredje pålitelighetsrapport om LED-drivere basert på langsiktig akselerert levetidstesting. Forskere fra US Department of Energy's Solid State Lighting (SSL) mener at de siste resultatene bekrefter den utmerkede ytelsen til Accelerated Pressure Test (AST)-metoden under ulike tøffe forhold. I tillegg kan testresultatene og målte feilfaktorer informere sjåførutviklere om relevante strategier for å forbedre påliteligheten ytterligere.

Som kjent kan LED-drivere, somLED-komponentene selv, er avgjørende for optimal lyskvalitet. Et passende driverdesign kan eliminere flimmer og gi jevn belysning. Og driveren er også den mest sannsynlige komponenten iLED-lyseller lysarmaturer til feil. Etter å ha innsett viktigheten av drivere, startet DOE et langsiktig drivertestingsprosjekt i 2017. Dette prosjektet involverer enkeltkanal- og flerkanalsdrivere, som kan brukes til å feste enheter som takspor.

Det amerikanske energidepartementet har tidligere gitt ut to rapporter om testprosessen og fremdriften, og nå er det den tredje testdatarapporten, som dekker produkttestresultater som kjører under AST-forhold i 6000 til 7500 timer.

Bransjen har faktisk ikke så mye tid til å prøvekjøre i normale driftsmiljøer på mange år. Tvert imot har det amerikanske energidepartementet og dets entreprenør RTI International testet stasjonen i det de kaller et 7575-miljø – både innendørs fuktighet og temperatur holdes konsekvent på 75 °C. Denne testen involverer to stadier av førertesting, uavhengig av kanalen. Enkeltrinnsdesign koster mindre, men den mangler en separat krets som først konverterer AC til DC og deretter regulerer strømmen, noe som er unikt for to-trinns design.

US Department of Energy rapporterte at i tester utført på 11 forskjellige stasjoner, ble alle stasjoner drevet i et 7575-miljø i 1000 timer. Når frekvensomformeren er plassert i et miljørom, er LED-belastningen koblet til frekvensomformeren plassert under utendørs miljøforhold, slik at AST-miljøet kun påvirker frekvensomformeren. DOE assosierte ikke driftstiden under AST-forhold med driftstiden under normale miljøer. Den første gruppen med enheter sviktet etter 1250 timers drift, selv om noen enheter fortsatt er i drift. Etter testing i 4800 timer mislyktes 64 % av enhetene. Ikke desto mindre, med tanke på det harde testmiljøet, er disse resultatene allerede veldig gode.

Forskere har funnet ut at de fleste feil oppstår i den første fasen av driveren, spesielt i strømfaktorkorreksjon (PFC) og undertrykkelseskretser for elektromagnetisk interferens (EMI). I begge stadier av driveren har MOSFET-er også feil. I tillegg til å spesifisere områder som PFC og MOSFET som kan forbedre driverdesign, indikerer denne AST også at feil vanligvis kan forutses basert på overvåking av ytelsen til driveren. For eksempel kan overvåking av effektfaktor og overspenningsstrøm oppdage tidlige feil på forhånd. Økningen i blinkingen indikerer også at en funksjonsfeil er i ferd med å oppstå.

DOEs SSL-program har i lang tid utført viktig testing og forskning innen SSL-feltet, inkludert ved Gateway